各種製品の製造及び販売
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【高速プリント基板設計に対応】
・CAD間でのデータ移動がないため、SI,PI解析結果をタイムレスで設計へフィードバックができます。
・工場の製造結果を反映した設計が可能なため、より高周波の設計が行えます。
・EMCルールチェックにより試作回数を減らします。
【解析チェック例】
・SI , PI , EMI 各解析に対応しています。
・解析結果をEMCルールチェックに適応し、更なる高速設計が可能です。
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SI解析 |
PI解析 |
DC解析 |
EMI解析 |
【設計システム】
パターンレイアウトCAD |
CR8000 Design Force 2014 |
Zuken |
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Allegro 16.6 | Cadence | |
CR5000 / Board Designer 16.0 | Zuken | |
CR5000 / PWS Rev22 | Zuken | |
SI解析 | Design Force SI | Zuken |
PI/DC/EMI解析 | Design Force PI/EMI | Zuken |
EMC検証 | EMC Adviser EX | Zuken |
回路図作成 | Concept HDL 16.6 | Cadence |
Design Entry CIS 16.6 | ||
特性インピーダンスシミュレータ | Si6000 | Polar |
製造・実装解析 | Valor NPI | Mentor |
CAM | Genesis 2000 | Orbotech |
U-CAM | Barco | |
ValuGrid | ETC |
・産業用ロボット機器用
・NC機器用
・コンピュータ機器用
・各試験装置用
・光通信機器用
お客様の要求に合った様々な信頼性試験に対応いたします
・接続性、絶縁性、耐熱試験等の各種基準(IPC等)に準拠した試験に対応
【故障解析】
故障メカニズムの解明に適した故障解析を実施
・お客様の目的に合わせた故障製品の解析を行うことにより、メカニズムの究明まで実施
・プリント基板・部品内部の接合や内部構造等の観察のみでも対応
【代表的な評価設備】
・気槽式熱衝撃試験機
・液槽式熱衝撃試験機
・ホットオイル試験機
・恒温恒湿試験機
・マイグレーション試験機
【代表的な分析設備】
・走査型電子顕微鏡(SEM)
・蛍光X線装置